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當前位置：合肥森譜科學儀器有限公司>>質譜類儀器>>氣質聯用(GC-MS)>> Orbitrap Exploris GC 240賽默飛高分辨率質譜GC-MS/MS系統
使用 賽默飛高分辨率質譜GC-MS/MS系統，簡化較復雜的分析挑戰并獲得高質量的數據。
賽默飛高分辨率質譜GC-MS/MS系統提供了準確的定性和定量信息，可滿足研究實驗室對化合物鑒定和定量不斷變化的要求。
從發現分析、代謝組學 應用定量分析，科學家能夠輕松獲取信息豐富的數據和結果。
體驗高分辨率 GC-MS 分析的突破性性能，獲得最詳細深入的樣品信息。
規格
動態范圍在單個 Orbitrap 質量分析儀光譜范圍內 >5000
質量范圍30 至 3000 m/z
質量準確度外部校準實現24小時內 <3 ppm RMS 的偏移；內部鎖定質量校準實現24小時內 <1 ppm RMS 的偏移。
分辨率m/z 200 時，高達240,000
掃描速率在 m/z 200 時，分辨率設置為7,500，高達 40 Hz
描述Orbitrap Exploris GC 240 質譜儀
Orbitrap Exploris GC 240 質譜儀：
使您能夠第一時間獲得正確答案
質量準確度、動態范圍和耐用性讓您可以靈活地適應不斷變化的需求
包含智能儀器設置和直觀的用戶體驗，使不同層級的用戶都能訪問該功能
提供的240,000分辨率（在 m/z 200 時），實現亞 1 ppm 級的質量準確度和低至 ppt 級濃度的靈敏度
在所有質量分辨率水平上保持系統靈敏度，因此無需在分辨率和靈敏度之間進行折衷
以一次又一次進樣后保持可重復性能為特征，使高樣本研究中的發現成為可能
